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奧林巴斯探傷儀雙晶探頭線纜
更新時(shí)間:2024-04-02
奧林巴斯雙晶探頭線纜BCMD-316-5F 雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波,另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。
BCMD-316-5F奧林巴斯探傷儀雙晶探頭線纜的詳細(xì)資料
?奧林巴斯雙晶探頭線纜BCMD-316-5F
介紹
雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波,另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。
雙晶探頭:
雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片(一個(gè)用作發(fā)送器,另一個(gè)用作接收器),兩個(gè)晶片裝于同一個(gè)外殼中,但中間有一層
隔音屏障。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜,目的是使從工件底面反彈的信號(hào)以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測(cè)嚴(yán)
重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù),而且還可用于高溫環(huán)境。
雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波,另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。要
了解有關(guān)用于MG2和37系列測(cè)厚儀的探頭更詳細(xì)的情況請(qǐng)咨詢我們。
優(yōu)勢(shì)
• 改進(jìn)了近表面的分辨率。
• 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。
• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。
• 減少了粗晶粒或易散射材料中的直接反向散射噪音。
• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起。
• 可與曲面工件外形相吻合,緊貼在工件的表面。
應(yīng)用
• 剩余壁厚測(cè)量。
• 腐蝕/侵蝕監(jiān)控。
• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測(cè)。
• 探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。
• 探測(cè)螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。
• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的溫度為425°C(800°F);7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的溫度為175°C(350°F)。表面溫度在90°C(200°F)到425°C(800°F)的情況下,建議使用的占空因數(shù)為最多10秒鐘接觸,然后進(jìn)行最少1分鐘的空氣冷卻(不適用于袖珍雙晶)。
優(yōu)勢(shì)
• 改進(jìn)了近表面的分辨率。• 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。• 減少了粗晶?;蛞咨⑸洳牧现械闹苯臃聪蛏⑸湓胍?。• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起。• 可與曲面工件外形相吻合,緊貼在工件的表面。
應(yīng)用
• 剩余壁厚測(cè)量。• 腐蝕/侵蝕監(jiān)控。• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測(cè)。• 探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。• 探測(cè)螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。
• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的*高溫度為425°C(800°F);7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的*高溫度
為175°C(350°F)。表面溫度在90°C(200°F)到425°C(800°F)的情況下,建議使用的占空因數(shù)為*多
10秒鐘接觸,然后進(jìn)行*少1分鐘的空氣冷卻(不適用于袖珍雙晶)。
齊頭外殼雙晶探頭的線纜
線纜工件編號(hào) | 適用的連接器類型 |
BCMD-316-5F | 雙線BNC到Microdot |
L1CMD-316-5F | 雙線大LEMO 1到Microdot |
LCMD-316-5F | 雙線小LEMO 00到Microdot |