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美國GE帶保護膜歐洲規(guī)格探傷儀探頭
更新時間:2024-04-01
美國GE超聲渦流相控陣探頭性能及應(yīng)用GE Inspection Technologies的應(yīng)用程序中心為無損檢測應(yīng)用程序的用戶提供廣泛的服務(wù)。
B1S系列美國GE帶保護膜歐洲規(guī)格探傷儀探頭的詳細(xì)資料
???美國GE超聲渦流相控陣探頭性能及應(yīng)用
GE Inspection Technologies的應(yīng)用程序中心為無損檢測應(yīng)用程序的用戶提供廣泛的服務(wù)。
我們的使命是匯聚來自多個行業(yè)和模式的全球知識和經(jīng)驗,以幫助客戶迅速解決他們的檢查應(yīng)用問題。
憑借無出色的業(yè)績記錄,我們經(jīng)驗豐富的工程師,技術(shù)人員和專家是客戶的重要資產(chǎn)。他們的經(jīng)驗豐富,涵蓋了許多NDT模式和許多行業(yè)領(lǐng)域-從射線照相技術(shù)的發(fā)展定制渦流設(shè)計的解決方案,用于檢查生產(chǎn)車間的航空航天零件用于電力,石油,天然氣和汽車行業(yè)的現(xiàn)場檢查的探頭。
新材料,專為特定應(yīng)用而設(shè)計。我們提供各種特殊應(yīng)用的傳感器,其中一些顯示在這些頁面。
探頭選擇規(guī)范與性能
接觸式換能器檢驗方法
直梁—單個元素
•具有規(guī)則幾何形狀的零件和相對光滑的接觸面
•平坦或彎曲的接觸面
•缺陷或與墻面平行的底壁或可檢測到垂直于表面的光束
•用于厚實的滲透
欄目
•延遲線類型改善了近地表解析度
•需要耦合劑層,通常是凝膠,油或糊劑
•通常用于手動檢查直光束-雙元素(TR)
•發(fā)送和接收元素被串?dāng)_隔離
•缺陷或與墻面平行的底壁或可檢測到垂直于表面的光束
•薄型表面,近表面解析度
•需要耦合劑層,通常是凝膠,油或糊
•通常用于手動檢查角鋼
•元件安裝在一體式或可更換的楔子
•使用折射來傳遞剪切力或縱波在預(yù)定角度
•用于傾斜零件缺陷,例如焊縫
•提供單元素和雙元素類型
•需要耦合劑層,通常是凝膠,油或糊劑
•有時用于機械化或自動化測試
接觸法探頭
直射線---單晶
•被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
•接觸面或平或曲
•缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
•透透厚部件
•逐步塊改善提高近場分辨率
•需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊
•通常用于手動檢測
直探頭---雙晶
•接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
•缺陷或背反射平行于表面,可被垂
直于表面的聲束探測
•近表面分辨率好,用于較薄部件
•需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊
•通常用于手動檢測
斜探頭
•芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上
•利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探針通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
•有所傾斜的缺陷的檢測,如焊縫
•有單晶探頭和雙晶探頭
•需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊
接觸式和水浸式接觸法探頭
直射線---單晶
•被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
•接觸面或平或曲
•缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
•透透厚部件
•逐步塊改善提高近場分辨率
•需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊
•通常用于手動檢測
直探頭---雙晶
•接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
•缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
•近表面分辨率好,用于較薄部件
•需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊
•通常用于手動檢測
斜探頭
•芯片安裝在內(nèi)置的或可更換的斜塊上
•利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
•大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探針通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
•有所傾斜的缺陷的檢測,如焊縫
•有單晶探頭和雙晶探頭
•需要聚合層,一般為凝膠,油類,漿糊